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TAS7000

展示会情報

TAS7000

3Dイメージング解析システム


3D (*1) イメージング解析システムTAS7000 (*2) は、テラヘルツ波 (*3) が有する特徴をフルに活かし、非破壊かつ3Dで測定対象物内部の状態(形状)や化学的性質を測定・解析し、結果を立体的にわかりやすく表示します。
また、分光測定や2D (*1) マッピング測定も可能です。
プラスチックやセラミックなどを素材とする工業品の3D解析や、医薬品の分析・検査など、従来のイメージング装置や分析装置ではできなかった新しいソリューションを提供いたします。
(*1) 2D: Two-dimensional, 3D: Three-dimensional
(*2) 本システムは名古屋大学 川瀬晃道教授との共同研究により製品化したものです
(*3) 0.1 〜 数十THzの電磁波を指します


特長

テラヘルツ波を利用した2次元/3次元非破壊解析が可能

「TAS7000」は、テラヘルツ波を使うCT(Computed Tomography)方式により、測定対象物の内部状態を非破壊のまま2次元・3次元画像として可視化します。内部物質の構造変化はもちろんのこと、その成分の特定や物質量まで簡単に解析することができます。また、テラヘルツ波の特長のひとつとして、さまざまな物質を適度な透過力で透視することができるため、今まで他の電磁波では不可能だった、物質の解析が可能となります。

テラヘルツ光サンプリング方式による高速測定を実現

テラヘルツ波の発生と検出を、超短フェムト秒パルス光ファイバレーザにより高精度にサンプリング同期させる、テラヘルツ光サンプリング方式を新規開発しました。これにより、従来の約1000倍(当社比)となる、実用的な測定スループットを実現しました。

3THzまでの広帯域なテラヘルツ波分光分析を実現

最大測定周波数3THzの広帯域、高分解能な分光分析が可能です。ケミカル材料、工業材料、バイオ物質などさまざまな試料の指紋スペクトル解析が簡単にできます。また、より高精度な分光測定ニーズに向けた、測定試料部に乾燥空気を充填して水蒸気の影響を除去するオプションも用意しました。

量産ラインにも対応可能な柔軟なシステム仕様

装置内のテラヘルツ波発生モジュールと検出モジュールを、多チャンネル化可能な仕様としました。複数の被検査対象物の同時測定や、量産ラインでの検査に応用でき、お客様の多様な測定ニーズに応える柔軟なシステム構築が可能です。