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株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区、社長：松野晴夫）は、2010年1月20日から22日まで、東京ビッグサイトにて開催される第27回エレクトロテスト・ジャパンに出展いたします。
エレクトロテスト・ジャパンは日本最大のエレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術の専門展示会です。この展示会において当社は｢テラヘルツ・3Dイメージング・システム｣を展示いたします。
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2010年1月20日（水）〜1月22日（金）
10:00am 〜 6:00pm （22日は5:00pmまで） |
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東京ビッグサイト
（アドバンテスト展示ブース 東4ホール 小間番号 東48−16） |
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世界初「テラヘルツ・3Dイメージング・システム」 |
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「テラヘルツ・3Dイメージング・システム」は、当社で開発したテラヘルツ電磁波技術を使い、測定対象物の内部にある物質を、非破壊かつ3Dで可視化・解析を可能とするシステムです。
テラヘルツ波が持つ物質透過性や指紋スペクトルの特長を活かし、物体材料内の特定成分を計測する事も可能です。当社独自の超短パルス光ファイバレーザ技術、テラヘルツ光サンプリング方式による高速測定技術、センシング感度を向上させるセンサ技術などの様々な先端技術により、「テラヘルツ・3Dイメージング・システム」を実現しました。
テラヘルツ電磁波は、今後さらに幅広い応用分野への適用が期待されており、当社は、工業加工品、医薬品、バイオテクノロジー、セキュリティーなど多岐にわたる分野での新しい解析要求に対して、最適なソリューションを提供していきます。
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| 【テラヘルツ・3Dイメージング・システム】 |
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| 【疑似測定サンプルのテラヘルツ・3D測定例】 |
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ポリエチレンの円柱に測定試薬として、
アミノ酸と糖を充填した疑似測定サンプル |
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| ※ |
当社ブースの展示概要については、こちらをご覧ください。 |
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新企画商品開発室 TASpj
TEL：022-392-8730（ダイヤルイン）
メールアドレス：info_t@jp.advantest.com |
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| ※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過または様々な事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。 |
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