株式会社アドバンテスト(本社：東京都千代田区　社長：松野晴夫)は、半導体フォトマスク上の微細寸法パターンを高精度で測定できる半導体フォトマスク用CDSEM（Critical Dimension Scanning Electron Microscope）「E3610/E3620」の販売を開始いたします。
当社はこの半導体フォトマスク用CDSEMを、従来2004年度より相手先ブランドにて販売しておりましたが、このたび当該販売契約期間終了に伴い、当社のブランドにて販売を開始するものです。今後お客様の半導体開発促進ならびに半導体製造歩留まり向上に、より一層の貢献を目指してまいります。