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ダイナミック・テスト・ハンドラ「M6242」を販売開始
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業界最高のスループットでDRAM量産試験コストを大幅低減
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株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：丸山利雄）は、DRAMなどメモリ・デバイスの量産試験向けに、業界最高42,200個／時間の高スループットで試験可能なダイナミック・テスト・ハンドラ「M6242」を開発し、2008年7月より販売を開始いたします。
同製品は、6月3日から5日まで、東京国際フォーラムにて開催される「アドバンテスト展2008」に出展いたします。
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近年、代表的な汎用メモリであるDRAMは、パソコンのメイン・メモリとしてだけでなく薄型テレビや携帯電話など様々なデジタル情報機器に組み込まれるようになっており、今後もその需要は右肩上がりに増えていくことが予測されております。一方、パソコンや家電製品などの低価格化が進んでおり、メモリ・デバイスにも一層の価格圧力が強まっております。そのため、DRAMメーカーからは、量産ラインにおいてテスト・コスト低減を実現できるテスト・ソリューションが求められておりました。
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(1) |
業界最高の処理性能、42,200個／時間の高スループット・ハンドラ |
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BGAやCSPなど様々なパッケージ・タイプのメモリ・デバイスに対応し、当社従来機種比（M6241比）2倍以上となる42,200個／時間の高スループット化を実現しています。また、デバイス試験後の良否分別収納時においても搬送アームの複雑な動作を最適化し、高効率な搬送を可能にしています。「M6242」は、当社DRAM量産試験向けのメモリ・テスト・システム「T5588」と併用いただくことで、生産性向上とテスト・コストの大幅な低減に貢献いたします。
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(2) |
温度コントロール機能の強化 |
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恒温槽内の温度コントロール方式を最適化することで、きめ細かい温度制御が可能になりました。従来機種（M6241）では、温度環境を−10℃〜100℃に設定した場合に±2.0℃だった温度精度を、「M6242」では25%向上させて±1.5℃としています。これによりテスト時の歩留まりが向上します。
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(3) |
操作性を大幅に向上 |
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オペレーターの操作性を重視した大型ディスプレイでは、従来機種（M6241）より豊富なメニューを表示することが可能になりましたので、操作時間の短縮に貢献いたします。
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M6242 |
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対象パッケージ |
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BGA、CSP、TSOP1他 |
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同時測定数 |
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最大512個 |
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スループット |
： |
42,200個／時間 |
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温度印加範囲 |
： |
−40℃ 〜 ＋125℃ （オプション −55℃ 〜 ＋125℃） |
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営業本部 メモリ・ソリューションビジネス部
電話：03-3214-7505 |
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| ※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過または様々な事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。 |
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