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T2000 テスト・システム |
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ハイ・スピードI/Fソリューション |
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高速かつ多チャンネルのデバイス・インターフェースに特有な試験機能を搭載し、DIも含めたトータル・ソリューションを提供 |
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ハイ・パラレル・ソリューション  |
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高密度デジタル・モジュールを搭載し2,000チャンネル超のテスタを提案、高機能デバイスの同時測定でテスト・コストを削減 |
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テスト・セル・ソリューション |
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テスタからハンドラまでトータルでサポートするワン・ストップ・ソリューション。ダイナミック・テスト・ハンドラ「M4841」との組み合わせで、最大16個同時測定を実現した高スループットのMCU、DSPテスト・ソリューションを提供 |
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RF ソリューション |
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1モジュール32ポートの供給により、多ポートRFデバイスの低コスト試験を「T2000」テスト・システム上で実現 |
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エンジニアリング・ソリューション |
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エンジニアリング・ユースや多品種少量生産に最適なテスト・ソリューション |
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EDAリンケージ・ソフトウェア
ナノメータ時代のSoCテストにおけるTAT短縮及び歩留まり改善を実現するソフトウェア・ソリューション |
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LCD ドライバ・ソリューション |
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T6373 LCDドライバ・テスト・システム |
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次世代型高階調LCDドライバの多機能試験や低コスト試験を実現 |
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Flash トータル・ソリューション |
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T5781 メモリ・テスト・システム |
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MCP向け業界最高速度266MHz/533Mbpsを実現、DRAM/Flash/MCPを1台で試験可能 |
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T5781ES メモリ・テスト・システム |
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「T5781」の機能を凝縮したエンジニアリング・ステーション・モデル新登場 |
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T5761 メモリ・テスト・システム |
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NAND型フラッシュ・メモリを最大512個同時測定、業界最高クラスの量産パフォーマンス |
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T5761ES メモリ・テスト・システム |
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「T5761」の機能を凝縮したエンジニアリング・ステーション・モデル |
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M6241 ダイナミック・テスト・ハンドラ |
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高速ハンドリングによる高スループット化、多数個同時測定によるテスト・コスト低減 |
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バーンイン・テスト・ソリューション |
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P3502 テスト・バーンイン・システム |
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低価格、高スループットでメモリ・デバイスの量産工程に貢献 |
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EB リソグラフィ・ソリューション |
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F3000 電子ビーム露光装置 |
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マスクレスで65nmノード以降の微細加工対応を実現 |
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