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(1) |
最高試験速度266MHz/533Mbps(DDRモード時)を実現 |
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MCP向けテスタにおける業界最高クラスの試験速度266MHz/533Mbps(DDRモード時)を実現し、高速DRAM試験にも対応します。
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(2) |
各種メモリ測定機能を搭載 |
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DRAMやフラッシュ・メモリなど各種メモリの測定機能を搭載しています。複数種のデバイスを搭載するMCPを、この1台でかつ1パスで効率良く試験することができます。
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パーサイト・アーキテクチャを採用したことによりNAND型フラッシュ・メモリ試験を効率化 |
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テスト・サイト毎に電源やパターン発生器などの試験リソースを備えておりますので、デバイスを個別に制御して測定することが可能です。このように測定機能を独立化（パーサイト化）させることで、NAND型フラッシュ・メモリやSPI（Serial Peripheral Interface）フラッシュ・メモリなどのテスト・タイムを劇的に短縮します。
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評価・量産プログラム開発用にT5781ESを同時開発 |
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T5781の機能、性能をそのまま維持した小型のエンジニアリング・タイプ（T5781ES）を開発しました。デバイスの開発から量産までをシームレスに行なえ、TAT（Turn Around Time）短縮が可能です。
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新製品T5781/T5781ESの販売により、フラッシュ・メモリやDRAMのウエハ試験からMCPのパッケージ試験にいたるまでお客様に信頼いただける高品質なトータル・ソリューションを提供してまいります。
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