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このたび販売を開始する『RFテスト・ソリューション』は、新規開発した「T2000 12GHzワイドバンド・シグナル・ジェネレータ／アナライザ・モジュール」により、RF信号を扱う通信用SoCデバイスの高精度かつ低コストな試験を、OPENSTAR®規格に基づいたT2000テスト・システム上で可能にするものです。
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(1) |
多ポート化を実現し、測定効率を大幅に向上 |
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1モジュールあたり32のRF信号入出力ポート(システムでは最大128ポート)を搭載し、多ポートRFデバイスの多数個同時測定を可能にします。現在主流の4〜8ポートのRFデバイスを16個同時に測定することができます。また、2008年初め頃から普及が見込まれる16ポートのマルチバンドRFデバイスでも4個同時に測定可能です。
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(2) |
高い測定再現性を確保 |
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新規開発した高速測定アルゴリズムにより高い再現性を実現しています。
これにより高精度試験とテスト・タイムの短縮を可能にしました。
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(3) |
RF SoCデバイスにおける全ての信号試験を1台のテスタで実現 |
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「T2000 12GHzワイドバンド・シグナル・ジェネレータ／アナライザ・モジュール」を既に販売している800Mbpsデジタル・モジュール、ベースバンド信号試験モジュール等と組み合わせることにより、RF SoCデバイスの全ての信号試験を、1台のテスタ上で高精度かつ低テスト・コストで実現します。
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今後も当社は、多様な試験ニーズに対応した高品質のテスト・ソリューションをT2000テスト・システム上で提供し、お客様の製品の市場競争力強化に貢献してまいります。
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