株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：丸山利雄）は、LCD ソース／ゲートドライバICや、1チップ・コントローラ・ドライバICの試験用に、最大3072チャンネルを搭載し、最大32個同時に試験可能なLCDドライバ・テスト・システム「T6373」を開発し、7月より販売を開始いたします。
翌年に控えた北京オリンピックやアナログテレビ放送から地上デジタルテレビ放送への切り替えなどを背景に、薄型デジタルテレビなどのアプリケーションを中心として、高精細かつ大型の液晶パネルの需要が世界的に拡大しております。これらの需要拡大に伴い、液晶パネルに搭載されるLCDドライバICは、2010年までに出荷数ベースで45%程度の市場拡大が見込まれながら、一方で金額ベースでは7%の増加に留まることが予測されており、ドライバIC に対する価格圧力は一層強まることが予想されます。しかしながら、液晶パネルの高精細化や大型化によってドライバICは多ビット化や多ピン化、高速化が進んでおり、それに伴い試験時間も長大化し、テスト・コストの増大を招いておりました。そのためドライバICの量産現場では低コストなテスト・ソリューションが求められておりました。
7月より販売を開始する「T6373」は、画像信号の入力部にあたるデジタル試験用に最大512チャンネル（当社従来機種比2倍）、出力部にあたるLCD試験用には最大3072チャンネル(当社従来機種比2倍)を搭載しており、最大32個まで同時試験が可能です。また、大型液晶テレビなどに用いられる昨今主流の684ピンや720ピンのドライバIC試験においても、当社従来機種比2倍の4個同時試験が可能ですので、量産現場でのテスト・コスト低減に大きく貢献いたします。
さらに、高精度デジタイザ・ユニットをLCDチャンネル毎に搭載しておりますので、多ピン化かつ多ビット化するドライバICも当社従来機種比約1.5倍の高スループットで試験することが可能です。また、現在、主にデジタル家電などに搭載されている8bit(256階調)や10bit (1024階調)のドライバICから、最先端といわれる12bit（4096階調）の高階調ドライバICの高精度試験にも対応しておりますので、量産品種から最新あるいは次世代のドライバICに至るまで、テスト・コストの低減が可能となります。
また、T6373では、最大875Mbpsの高速デジタル試験機能により、PPDS® *1やMIPI *2などの規格に代表される高速差動小振幅インターフェース部の試験にも対応しておりますので、LCDドライバICの全機能をこの1台で試験することが可能です。
なお、T6373は、当社従来のLCDドライバ・テスト・システムT6372の上位機種です。当社従来機種とは、ソフトウエア環境やユーザビリティのみならず上位互換性を確保しておりますので、既存のテスト・プログラムやテスト・ボード、プローブ・カードなど、お客様の現有資産をそのまま活用いただけます。
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