2013年度プレス
リリース
2012年度プレス
リリース
2011年度プレス
リリース
2010年度プレス
リリース
2009年度プレス
リリース
2009年度プレスリリース
アドバンテストが「第8回日本環境経営大賞 環境経営優秀賞」を受賞
2010年3月26日
「T2000 LSMF 空冷仕様」を販売開始
2010年3月15日
ボード・ネットワーク・アナライザ「R3755Ａ」の販売を開始
2010年2月25日
エレクトロテスト・ジャパン出展のご案内
2010年1月12日
半導体フォト・マスク用線幅測定電子顕微鏡 MASK CDSEM 「E3610/E3620」 自社ブランドで販売開始
2010年1月5日
2010年 松野晴夫社長 社員向け年頭所感（要旨）
2010年1月5日
STATS ChipPAC社、アドバンテストのSoC向けテスト・システムT2000をシリコンバレーに導入
2009年12月8日
セミコン・ジャパン2009出展のご案内
2009年11月9日
「草津やすらぎの森」で3回目の森林保全活動を実施
2009年10月23日
アドバンテストが半導体試験装置メーカー初の「東京大学稷門賞」を受賞
2009年10月7日
アドバンテスト グリーンが障がい者雇用の優良事業所として表彰される
2009年9月18日
テラヘルツ電磁波技術で新規事業分野を開拓
2009年9月17日
ボード・ネットワーク・アナライザ「R3760」の販売を開始
2009年8月7日
メモリ・テスト・システム「T5385」を販売開始
2009年7月28日
アドバンテストのビオトープが群馬県立館林美術館に
2009年7月16日
「第10回 理科工作教室」を開催
2009年7月15日
「Corporate Report 2009」を発行
2009年7月2日
アドバンテスト役員人事について
2009年6月25日
世界的なSRI指標「FTSE4Good Index Series」に継続採用
2009年6月5日
VLSIリサーチ社の顧客満足度調査「10 BEST」を21年連続で受賞
2009年6月1日
メモリ・テスト・システム「同時測定数拡張版 T5503」を販売開始
2009年5月29日
欧州企業で初 車載用半導体大手が「T2000」を採用
2009年5月14日
役員の異動 (PDF: 14KB)
2009年4月27日
関係子会社統廃合について
2009年4月27日
サーバの不具合について
2009年4月3日
2009年度入社式 丸山社長挨拶（要旨）
2009年4月1日
ニュースへ戻る
サイトについて
|
個人情報保護方針
|
サイトマップ
|
お問い合わせ
| © Copyright 2013 ADVANTEST CORPORATION
